跳到主要內容
:::

UCLA:奈米技術設備可以檢測懷孕期間嚴重併發症的風險

加州大學洛杉磯分校(UCLA) 2021年8月3日發布「奈米技術設備可以檢測懷孕期間嚴重併發症的風險」:由加州大學洛杉磯分校(UCLA)醫學院分子藥理系終身教授、加州奈米系統研究所學者曾憲榮(Hsian-Rong Tseng )領導的跨學科和研究中心聯合團隊,應用最新優化的奈米魔鬼粘(NanoVelcro)晶片技術於無創檢測,在罹患妊娠併發症「胎盤植入(placenta accrete spectrum, PAS)」孕婦的的外周血中,首次發現循環胎兒細胞簇(circulating trophoblast clusters,cTB-clusters),對於早期檢測及降低孕婦胎盤植入風險,具有關鍵性的幫助。該研究成果發表於《Nature Communications 》科學期刊。
https://www.nature.com/articles/s41467-021-24627-2

更新日期 : 2021/08/18